TopMap Pro.Surf
Formtoleranzen von Oberflächen zuverlässig messen
Das TopMap Pro.Surf bestimmt Formabweichung schnell, zuverlässig und präzise mit besonders grossem Bildfeld. Das High-End-Oberflächenmessgerät TopMap Pro.Surf ist optimal zur Messung präzisionsgefertigter Oberflächen geeignet – im Messraum, produktionsnah und dank hoher Wiederholpräzision auch direkt in der Produktionslinie. Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen und Parallelität bietet das TopMap Pro.Surf kundenspezifische Lösungen. Dabei bestechen insgesamt die räumliche Auflösung, die telezentrische Optik und die Geschwindigkeit.
Form, Stufen etc. grosser Flächen messen
Polytec Weisslichtinterferometer messen Formparameter wie Dicke, Parallelität, Stufenhöhe und Welligkeit schnell, in 3D und hochaufgelöst im nm-Bereich. Das TopMap Pro.Surf erfasst grosse Flächen und ist somit schneller und effizienter gerade bei grossen Prüflingen und gleichzeitiger Messung mehrerer Proben. 2 Millionen Messpunkte erfasst binnen weniger Sekunden dank grossem Bildfeld von 44 x 33 mm beschleunigt Ihre Oberflächeninspektion signifikant. Erweitern Sie das Messfeld durch Sichtfeld durch Stitching auf 230 x 220 mm. Der besonders grosse vertikale Messbereich bis 70 mm (Z-Achse) mit exzellenter vertikaler Auflösung (unabhängig der Bildfeldgrösse!) bieten weiteren Freiraum für individuelle Messaufgaben. Die telezentrische Optik mit 70 mm Z-Bereich erreicht selbst schwer zugängliche und tiefliegende Flächen wie Bohrungen und Bodenflächen für eine maximale Stufenauswertung.
Rauheit einer Oberfläche messen
Die Charakterisierung der Oberflächenbeschaffenheit im Detail lässt sich durch Rauheit und Formparameter und Welligkeit beschreiben. Die Rauheitsmessung findet oft mithilfe abtastender, also taktiler Messspitzen oder Tastschnittgeräten statt, wobei die Tastspitze über die Bauteiloberfläche geführt und dabei durch die Oberflächentextur vertikal ausgelenkt wird. Bei diesem Rauheits-Messverfahren wird die Oberfläche erstmal auf Basis eines 2D-Profils beschrieben Inwieweit diese Reduzierung der eigentlich komplexen Oberfläche auf einen Profilschnitt brauchbare Ergebnisse liefert, hängt massgeblich von der Oberflächenbeschaffenheit und den funktionsrelevanten Anforderungen ab. Optische 3D-Rauheitsmessung stellt hierzu eine fundiertere Alternative für detailliertere und flächenhafte Aussagen über eine gesamte Werkstücksoberfläche.
Warum die Ebenheit von Oberflächen messen?
Ebenheitstoleranzen werden als Qualitätsindikator vieler Produktionen herangezogen, weil die Ebenheitsauswertung für viele Anwendungen entscheidend ist hinsichtlich Funktionalität technischer Komponenten. Die Ebenheit als Oberflächenparameter beeinflusst z. B. die Leckage von Dichtflächen an Flanschen und Ventilsitzen. Die Ebenheit von Oberflächen kann auch den Geräuschpegel und die Schallemission von Bauteilen beeinflussen. In der Präzisionsoptik, oftmals unter Einsatz optischer Polierverfahren, gilt die Ebenheit von Glassubstraten z. B. für Bauteile wie optische Spiegel oder Strahlteiler als einer der wichtigsten Qualitätsindikatoren. Auch ausserhalb der Feinmechanik und optischen Komponenten sind Ebenheitstoleranzen weit verbreitet. In der Elektronikindustrie ist es wichtig zu wissen, ob die Ebenheit von Leiterplatten innerhalb der spezifizierten Toleranzen liegt, um die elektrische Verbindung zu gewährleisten, wenn mehrere Teile z. B. per Lötstellen verbunden sind. Einfach ausgedrückt: Ebenheitstoleranzen haben grossen Einfluss auf die Zuverlässigkeit und Funktionalität in der industriellen Produktion.
Warum Stufenhöhen messen?
Die Prüfung von Stufenhöhen nimmt in der Qualitätsprüfung eine wichtige Rolle ein. Daher finden sich in vielen technischen Zeichnung Toleranzangaben für Höhenmasse, zum Beispiel für Absätze, Nuten und Bohrungen. Werden die Vorgaben an die Stufenhöhe verletzt, entstehen nachteilige Spaltmasse oder es kommt zur ungewollten Berührung zweier Bauteiloberflächen. Dies kann zu Leckage an Dichtflächen, unterbrochenem Stromfluss an elektrischen Kontakten oder erhöhtem Reibwiderstand und Verschleiss führen. Zudem kann die Stufenhöhenmessung auch zur Optimierung auf- oder abtragender Fertigungsverfahren herangezogen werden, es lässt sich sowohl die Dicke intransparenter Schichten bestimmen als auch der Materialabtrag beispielsweise durch Laserpulse überprüfen.
Schichtdicke auf konstantem Niveau halten
Die Materialdicke transparenter Oberflächen und Schichten ist entscheidend für deren Funktion. Den Produktionsprozess durch Messungen zu überprüfen und ständig auf einem exakt gleichen Level zu halten, ist unerlässlich für eine hohe Qualität und eine geringe Ausschussrate. Besteht Ihr Auftrag darin, die Dicke eines transparenten Messobjekts flächenhaft auszuwerten oder Defekte zu erkennen, dann sind Weisslichtinterferometer von Polytec eine präzise Lösung.
Ein wichtiger Aspekt gerade bei Beschichtungsprozessen ist es, die Beschichtung in definierter sowie kontrollierter Dicke aufzutragen und dies zu kontrollieren. Unabhängig davon, ob es sich bei der Beschichtungstechnologie um Verbundbeschichtungen, Nanobeschichtungen und Dünnschicht-Technologien, Abscheidung (Plasma und ionenbasiertes Vakuum), Schichtwachstum, Sputtertechnologien, sowie Tauch- und Fliess- und Schleuderbeschichtungen handelt. Aber auch beim Sprühen, Lackieren und Walzen, Galvanisieren, stromlosen Beschichten sowie bei gezielter Oberflächenmodifikation.
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