Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profiliometer: modularem und flexibel für die anspruchsvolle Oberflächenmessung – Texturen, Rauheit, Finish, Mikrostrukturen oder MEMS mit einer Auflösung im Sub-nm-Bereich erforschen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, entlang des aussergewöhnlich grossen Z-Bereichs von 100 mm, während die vollmotorisierte Positioniereinheit sowohl für effizientere Prüflabore wie automatisierte Inspektionen in der Produktion eignet
Automatisierbar auch als in-line Qualitätskontrolle
Umfangreiches Zubehör erleichtert und beschleunigt die Messvorgänge signifikant. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge unter allen Umständen stets im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse.
Charakterisieren Sie kleine Details und Mikrostrukturen berührungsfrei und in 3D, werten Sie die flächige Oberflächenrauheit Sa mit sub-nm-Auflösung aus und bewerten Sie selbst steile Winkel mit interferometrischer Präzision. Micro.View und Micro.View+ sind Oberflächenprofiler basierend auf der Kohärenz-Scanning Technologie und weisen eine hervorragende vertikale Auflösung unabhängig der Vergrösserung auf. Mit Continuous Scanning Technology (CST), 100 mm Z-Verfahrweg und gleichzeitig 100 mm vertikalem Messbereich, bis 5 MP-Kamera, einer Vielzahl an Objektiven von 2,5X (0,6X!) bis 111X einschliesslich Optionen für lange Arbeitsabstände und Glas-Kompensation, voreingestellte ISO-Parameter wie ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287. ISO 13565, ISO 21920…
Rauheit einer Oberfläche messen
Die Charakterisierung der Oberflächenbeschaffenheit im Detail lässt sich durch Rauheit und Formparameter und Welligkeit beschreiben. Die Rauheitsmessung findet oft mithilfe abtastender, also taktiler Messspitzen oder Tastschnittgeräten statt, wobei die Tastspitze über die Bauteiloberfläche geführt und dabei durch die Oberflächentextur vertikal ausgelenkt wird. Bei diesem Rauheits-Messverfahren wird die Oberfläche erstmal auf Basis eines 2D-Profils beschrieben Inwieweit diese Reduzierung der eigentlich komplexen Oberfläche auf einen Profilschnitt brauchbare Ergebnisse liefert, hängt massgeblich von der Oberflächenbeschaffenheit und den funktionsrelevanten Anforderungen ab. Optische 3D-Rauheitsmessung stellt hierzu eine fundiertere Alternative für detailliertere und flächenhafte Aussagen über eine gesamte Werkstücksoberfläche.
Warum die Ebenheit von Oberflächen messen?
Ebenheitstoleranzen werden als Qualitätsindikator vieler Produktionen herangezogen, weil die Ebenheitsauswertung für viele Anwendungen entscheidend ist hinsichtlich Funktionalität technischer Komponenten. Die Ebenheit als Oberflächenparameter beeinflusst z. B. die Leckage von Dichtflächen an Flanschen und Ventilsitzen. Die Ebenheit von Oberflächen kann auch den Geräuschpegel und die Schallemission von Bauteilen beeinflussen. In der Präzisionsoptik, oftmals unter Einsatz optischer Polierverfahren, gilt die Ebenheit von Glassubstraten z. B. für Bauteile wie optische Spiegel oder Strahlteiler als einer der wichtigsten Qualitätsindikatoren. Auch ausserhalb der Feinmechanik und optischen Komponenten sind Ebenheitstoleranzen weit verbreitet. In der Elektronikindustrie ist es wichtig zu wissen, ob die Ebenheit von Leiterplatten innerhalb der spezifizierten Toleranzen liegt, um die elektrische Verbindung zu gewährleisten, wenn mehrere Teile z. B. per Lötstellen verbunden sind. Einfach ausgedrückt: Ebenheitstoleranzen haben grossen Einfluss auf die Zuverlässigkeit und Funktionalität in der industriellen Produktion.
Warum Stufenhöhen messen?
Die Prüfung von Stufenhöhen nimmt in der Qualitätsprüfung eine wichtige Rolle ein. Daher finden sich in vielen technischen Zeichnung Toleranzangaben für Höhenmasse, zum Beispiel für Absätze, Nuten und Bohrungen. Werden die Vorgaben an die Stufenhöhe verletzt, entstehen nachteilige Spaltmasse oder es kommt zur ungewollten Berührung zweier Bauteiloberflächen. Dies kann zu Leckage an Dichtflächen, unterbrochenem Stromfluss an elektrischen Kontakten oder erhöhtem Reibwiderstand und Verschleiss führen. Zudem kann die Stufenhöhenmessung auch zur Optimierung auf- oder abtragender Fertigungsverfahren herangezogen werden, es lässt sich sowohl die Dicke intransparenter Schichten bestimmen als auch der Materialabtrag beispielsweise durch Laserpulse überprüfen.
Schichtdicke auf konstantem Niveau halten
Die Materialdicke transparenter Oberflächen und Schichten ist entscheidend für deren Funktion. Den Produktionsprozess durch Messungen zu überprüfen und ständig auf einem exakt gleichen Level zu halten, ist unerlässlich für eine hohe Qualität und eine geringe Ausschussrate. Besteht Ihr Auftrag darin, die Dicke eines transparenten Messobjekts flächenhaft auszuwerten oder Defekte zu erkennen, dann sind Weisslichtinterferometer von Polytec eine präzise Lösung.
Ein wichtiger Aspekt gerade bei Beschichtungsprozessen ist es, die Beschichtung in definierter sowie kontrollierter Dicke aufzutragen und dies zu kontrollieren. Unabhängig davon, ob es sich bei der Beschichtungstechnologie um Verbundbeschichtungen, Nanobeschichtungen und Dünnschicht-Technologien, Abscheidung (Plasma und ionenbasiertes Vakuum), Schichtwachstum, Sputtertechnologien, sowie Tauch- und Fliess- und Schleuderbeschichtungen handelt. Aber auch beim Sprühen, Lackieren und Walzen, Galvanisieren, stromlosen Beschichten sowie bei gezielter Oberflächenmodifikation.
Osterwalder Messtechnik
Sumpfstrasse 13
CH-6312 Steinhausen
Telefon: +41 41 748 19 19
info@osterwalder-zug.ch
