Form, Stufen etc. grosser Flächen messen

Polytec Weisslichtinterferometer messen Formparameter wie Dicke, Parallelität, Stufenhöhe und Welligkeit schnell, in 3D und hochaufgelöst im nm-Bereich. Das TopMap Pro.Surf erfasst grosse Flächen und ist somit schneller und effizienter gerade bei grossen Prüflingen und gleichzeitiger Messung mehrerer Proben. 2 Millionen Messpunkte erfasst binnen weniger Sekunden dank grossem Bildfeld von 44 x 33 mm beschleunigt Ihre Oberflächeninspektion signifikant. Erweitern Sie das Messfeld durch Sichtfeld durch Stitching auf 230 x 220 mm. Der besonders grosse vertikale Messbereich bis 70 mm (Z-Achse) mit exzellenter vertikaler Auflösung (unabhängig der Bildfeldgrösse!) bieten weiteren Freiraum für individuelle Messaufgaben. Die telezentrische Optik mit 70 mm Z-Bereich erreicht selbst schwer zugängliche und tiefliegende Flächen wie Bohrungen und Bodenflächen für eine maximale Stufenauswertung.

Warum die Ebenheit von Oberflächen messen?

Ebenheitstoleranzen werden als Qualitätsindikator vieler Produktionen herangezogen, weil die Ebenheitsauswertung für viele Anwendungen entscheidend ist hinsichtlich Funktionalität technischer Komponenten. Die Ebenheit als Oberflächenparameter beeinflusst z. B. die Leckage von Dichtflächen an Flanschen und Ventilsitzen. Die Ebenheit von Oberflächen kann auch den Geräuschpegel und die Schallemission von Bauteilen beeinflussen. In der Präzisionsoptik, oftmals unter Einsatz optischer Polierverfahren, gilt die Ebenheit von Glassubstraten z. B. für Bauteile wie optische Spiegel oder Strahlteiler als einer der wichtigsten Qualitätsindikatoren. Auch ausserhalb der Feinmechanik und optischen Komponenten sind Ebenheitstoleranzen weit verbreitet. In der Elektronikindustrie ist es wichtig zu wissen, ob die Ebenheit von Leiterplatten innerhalb der spezifizierten Toleranzen liegt, um die elektrische Verbindung zu gewährleisten, wenn mehrere Teile z. B. per Lötstellen verbunden sind. Einfach ausgedrückt: Ebenheitstoleranzen haben grossen Einfluss auf die Zuverlässigkeit und Funktionalität in der industriellen Produktion.

Schichtdicke auf konstantem Niveau halten

Die Materialdicke transparenter Oberflächen und Schichten ist entscheidend für deren Funktion. Den Produktionsprozess durch Messungen zu überprüfen und ständig auf einem exakt gleichen Level zu halten, ist unerlässlich für eine hohe Qualität und eine geringe Ausschussrate. Besteht Ihr Auftrag darin, die Dicke eines transparenten Messobjekts flächenhaft auszuwerten oder Defekte zu erkennen, dann sind Weisslichtinterferometer von Polytec eine präzise Lösung.

Ein wichtiger Aspekt gerade bei Beschichtungsprozessen ist es, die Beschichtung in definierter sowie kontrollierter Dicke aufzutragen und dies zu kontrollieren. Unabhängig davon, ob es sich bei der Beschichtungstechnologie um Verbundbeschichtungen, Nanobeschichtungen und Dünnschicht-Technologien, Abscheidung (Plasma und ionenbasiertes Vakuum), Schichtwachstum, Sputtertechnologien, sowie Tauch- und Fliess- und Schleuderbeschichtungen handelt. Aber auch beim Sprühen, Lackieren und Walzen, Galvanisieren, stromlosen Beschichten sowie bei gezielter Oberflächenmodifikation.

Automatisierbar auch als in-line Qualitätskontrolle

Umfangreiches Zubehör erleichtert und beschleunigt die Messvorgänge signifikant. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge unter allen Umständen stets im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse.

Charakterisieren Sie kleine Details und Mikrostrukturen berührungsfrei und in 3D, werten Sie die flächige Oberflächenrauheit Sa mit sub-nm-Auflösung aus und bewerten Sie selbst steile Winkel mit interferometrischer Präzision. Micro.View und Micro.View+ sind Oberflächenprofiler basierend auf der Kohärenz-Scanning Technologie und weisen eine hervorragende vertikale Auflösung unabhängig der Vergrösserung auf. Mit Continuous Scanning Technology (CST), 100 mm Z-Verfahrweg und gleichzeitig 100 mm vertikalem Messbereich, bis 5 MP-Kamera, einer Vielzahl an Objektiven von 2,5X (0,6X!) bis 111X einschliesslich Optionen für lange Arbeitsabstände und Glas-Kompensation, voreingestellte ISO-Parameter wie ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287. ISO 13565, ISO 21920… 

Warum die Ebenheit von Oberflächen messen?

Ebenheitstoleranzen werden als Qualitätsindikator vieler Produktionen herangezogen, weil die Ebenheitsauswertung für viele Anwendungen entscheidend ist hinsichtlich Funktionalität technischer Komponenten. Die Ebenheit als Oberflächenparameter beeinflusst z. B. die Leckage von Dichtflächen an Flanschen und Ventilsitzen. Die Ebenheit von Oberflächen kann auch den Geräuschpegel und die Schallemission von Bauteilen beeinflussen. In der Präzisionsoptik, oftmals unter Einsatz optischer Polierverfahren, gilt die Ebenheit von Glassubstraten z. B. für Bauteile wie optische Spiegel oder Strahlteiler als einer der wichtigsten Qualitätsindikatoren. Auch ausserhalb der Feinmechanik und optischen Komponenten sind Ebenheitstoleranzen weit verbreitet. In der Elektronikindustrie ist es wichtig zu wissen, ob die Ebenheit von Leiterplatten innerhalb der spezifizierten Toleranzen liegt, um die elektrische Verbindung zu gewährleisten, wenn mehrere Teile z. B. per Lötstellen verbunden sind. Einfach ausgedrückt: Ebenheitstoleranzen haben grossen Einfluss auf die Zuverlässigkeit und Funktionalität in der industriellen Produktion.

Schichtdicke auf konstantem Niveau halten

Die Materialdicke transparenter Oberflächen und Schichten ist entscheidend für deren Funktion. Den Produktionsprozess durch Messungen zu überprüfen und ständig auf einem exakt gleichen Level zu halten, ist unerlässlich für eine hohe Qualität und eine geringe Ausschussrate. Besteht Ihr Auftrag darin, die Dicke eines transparenten Messobjekts flächenhaft auszuwerten oder Defekte zu erkennen, dann sind Weisslichtinterferometer von Polytec eine präzise Lösung.

Ein wichtiger Aspekt gerade bei Beschichtungsprozessen ist es, die Beschichtung in definierter sowie kontrollierter Dicke aufzutragen und dies zu kontrollieren. Unabhängig davon, ob es sich bei der Beschichtungstechnologie um Verbundbeschichtungen, Nanobeschichtungen und Dünnschicht-Technologien, Abscheidung (Plasma und ionenbasiertes Vakuum), Schichtwachstum, Sputtertechnologien, sowie Tauch- und Fliess- und Schleuderbeschichtungen handelt. Aber auch beim Sprühen, Lackieren und Walzen, Galvanisieren, stromlosen Beschichten sowie bei gezielter Oberflächenmodifikation.

Oberflächenmesstechnik mit Mikroskopoptik

Weisslicht erfasst selbst die feinsten Strukturdetails Ihrer Präzisionsoberflächen. Unsere Mikroskop-basierten Profilometer charakterisieren die Oberflächenbeschaffenheit und quantifizieren, wie rau oder glatt Ihre Werkstückoberflächen sind. Profitieren Sie von motorisierten Messungen, automatischer Positionierung, und dem automatischen Focus Finder, damit Sie sich auf Ihre Qualität konzentrieren können.

Mit einer digitalen Auflösung von 0.01 nm

Warum die Ebenheit von Oberflächen messen?

Ebenheitstoleranzen werden als Qualitätsindikator vieler Produktionen herangezogen, weil die Ebenheitsauswertung für viele Anwendungen entscheidend ist hinsichtlich Funktionalität technischer Komponenten. Die Ebenheit als Oberflächenparameter beeinflusst z. B. die Leckage von Dichtflächen an Flanschen und Ventilsitzen. Die Ebenheit von Oberflächen kann auch den Geräuschpegel und die Schallemission von Bauteilen beeinflussen. In der Präzisionsoptik, oftmals unter Einsatz optischer Polierverfahren, gilt die Ebenheit von Glassubstraten z. B. für Bauteile wie optische Spiegel oder Strahlteiler als einer der wichtigsten Qualitätsindikatoren. Auch ausserhalb der Feinmechanik und optischen Komponenten sind Ebenheitstoleranzen weit verbreitet. In der Elektronikindustrie ist es wichtig zu wissen, ob die Ebenheit von Leiterplatten innerhalb der spezifizierten Toleranzen liegt, um die elektrische Verbindung zu gewährleisten, wenn mehrere Teile z. B. per Lötstellen verbunden sind. Einfach ausgedrückt: Ebenheitstoleranzen haben grossen Einfluss auf die Zuverlässigkeit und Funktionalität in der industriellen Produktion.

Schichtdicke auf konstantem Niveau halten

Die Materialdicke transparenter Oberflächen und Schichten ist entscheidend für deren Funktion. Den Produktionsprozess durch Messungen zu überprüfen und ständig auf einem exakt gleichen Level zu halten, ist unerlässlich für eine hohe Qualität und eine geringe Ausschussrate. Besteht Ihr Auftrag darin, die Dicke eines transparenten Messobjekts flächenhaft auszuwerten oder Defekte zu erkennen, dann sind Weisslichtinterferometer von Polytec eine präzise Lösung.

Ein wichtiger Aspekt gerade bei Beschichtungsprozessen ist es, die Beschichtung in definierter sowie kontrollierter Dicke aufzutragen und dies zu kontrollieren. Unabhängig davon, ob es sich bei der Beschichtungstechnologie um Verbundbeschichtungen, Nanobeschichtungen und Dünnschicht-Technologien, Abscheidung (Plasma und ionenbasiertes Vakuum), Schichtwachstum, Sputtertechnologien, sowie Tauch- und Fliess- und Schleuderbeschichtungen handelt. Aber auch beim Sprühen, Lackieren und Walzen, Galvanisieren, stromlosen Beschichten sowie bei gezielter Oberflächenmodifikation.

MTL X10H

(horologer)

Schnelles und sicheres Messen von Kleinstteilen

MTL X10H ist eine optische Messmaschine speziell von uns modifiziert, für das Vermessen von kleinsten Teilen: Mikromechanik- und Uhrenindustrie sowie alle Teile mit kleinen Abmessungen von Ø8 mm auf H=10mm.
Die einmalig hohe Auflösung ermöglicht das Erkennen selbst kleinster Details. Dank einer Präzision von (1.0+D[mm]/100) µm auf den Durchmesser und (1.5+L[mm]/100) µm auf die Länge, ist ein sicheres Messen garantiert.

Nur ein Werkzeug für alle Messungen

Die MTL X10H ermöglicht dem Bediener, die Produktion ohne spezielle Messkentnisse zu überwachen. Das Messprogramm wird mit einem einfachen Klick aktiviert und dutzende Merkmale werden in wenigen Sekunden vermessen.

Modernste Software

Die brandneue Dream-Software wurde entwickelt, um die Messzeiten zu verbessern und die Anzahl der möglichen Messungen weiter auszubauen. Sie enthält spezielle Werkzeuge für statische und dynamische Messungen und spezifische Instrumente für Gewindebuchsen, Nockenwellen, Turbinenräder usw.

Erweiterte Software-Features

Neue automatische Funktionen vereinfachen es dem Bediener Messwerte zu erhalten: automatisches Programmieren, automatisches Laden des Teileprogramms, teilautomatisches Programmieren, DXF Vergleich.

METRIOS 332 Multisensormaschine

METRIOS 332 ist die erste Wahl für Messungen grosser, schwerer und komplexer Werkstücke sowie für die Vermessung mehrerer Werkstücke gleichzeitig.

Das System verfügt über einen grossen Messbereich und ein umfangreiches Beleuchtungssystem

High-End-Belichtungssystem

Modernste Software

Diese Software-Version wurde entwickelt, um die Messzeiten zu verbessern und die Anzahl der möglichen Messungen weiter auszubauen. Sie enthält spezielle Werkzeuge für das statische Messen und das automatisch Prüfen von Werkstückcodierungen

Erweiterte Software-Features

Automatische Funktionen, wie automatisches Laden der Programme und dem DXF Vergleich vereinfachen es dem Bediener schnell Messwerte zu erhalten.